小型蒸煮老化測試箱

【詳細介紹】

豪恩系列小型蒸煮老化測試箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自動安全保護裝置。

【技術規(guī)格參數(shù)】

1. 規(guī)格型號：HE-ZQ-5417
2. 內部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm；
3. 外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm；
4. 內外箱體材質：SUS304#優(yōu)質不銹鋼板；
5. 保溫層：PV發(fā)泡膠
6. 升溫時間:大約40分鐘；控制功能:PID+SSR,數(shù)字式顯示；
7. 蒸氣溫度:  97℃；
8. 計時功能：1～9999H/M/S，附時到報警功能，時間到達后切斷電源；
9. 水位控制：低水位報警功能；
10. 電源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW